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Product Category電鏡制樣設備
實驗室耗材
光學電子顯微鏡
實驗室常用設備
Leica EM TXP徠卡精研一體機 是一款可對目標區域進行精.確定位的表面處理工具，特別適合于SEM, TEM及LM觀察之前對樣品進行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高難度樣品，如需要對目標...
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徠卡三離子束切割儀： Leica EM TIC 3X 是一款*的三離子束切割儀，可對軟硬復合型或應力敏感型材料樣品進行離子束轟擊，獲得樣品截面，便于SEM觀察樣品內部結構信息及分析。
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徠卡超薄切片機 徠卡顯微系統為用戶帶來全新的樣品制備技術:Leica EM UC Enuity 新一代超薄切片機，這款超薄切片機可以進行半薄和超薄切片，為光學顯微鏡，透射電子顯微鏡，掃描電子顯微鏡和原...
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徠卡高真空鍍膜儀是一款多功能型高 真空鍍膜系統，用于制備超薄，細顆粒的導電金屬膜和碳膜，以適用于FE-SEM和TEM超高分辨率分析所需的鍍膜要求。這一款全自動臺式鍍膜儀，包含內置式無油真空系統石英膜厚...
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TedPella 夾鋁層雙面碳導電膠帶5mm/8mm為夾鋁層雙面碳導電膠帶，兩碳層中間有一層約30um厚度的鋁箔導電層，增加導電性，同時可消除SEM成像中的背底噪音。
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TedPella FIB載網Omniprobe 三齒鉬網，載網上的齒針可為樣品提供良好的支撐，下面的編號在TEM中可準確定位樣品
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Omniprobe FIB全鎢取樣針：FIB專用探針，此為全鎢探針，針柄和針尖都為鎢，針尖最大使用壽命內規格為＜0.5um，10-13°錐角，針柄直徑為0.508mm，針柄長度為34.036...
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FIB載網Omniprobe 四齒鉬網：Omniprobe 載網專用于FIB，載網上的齒針可為樣品提供良好的支撐，下面的編號在TEM中可準確定位樣品。此載網材質為鉬，含有4個齒針兩個V型和兩個直線型，...
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FIB載網Omniprobe 四齒銅網：Omniprobe 載網專用于FIB，載網上的齒針可為樣品提供良好的支撐，下面的編號在TEM中可準確定位樣品。此載網材質為銅，含有4個齒針兩個V型和兩個直線型，...
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FIB載網Omniprobe 三齒銅網：Omniprobe 載網專用于FIB，載網上的齒針可為樣品提供良好的支撐，下面的編號在TEM中可準確定位樣品。此載網材質為銅，含有3個齒針兩個V型和一個直線型，...
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Zeiss蔡司SEM掃描電鏡鎢燈絲 10個/盒，有以下兩種規格：貨號【AGA054】：燈絲直徑 0.12mm，10個/盒；貨號【AGA054L】：燈絲直徑 0.15mm，10個/盒。
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Leica EM KMR3 為電鏡和光鏡切片提供優質的玻璃刀 ，采用平衡斷裂法，確保制備出優質的玻璃刀，有三種規格玻璃條可供選擇：6.4mm，8mm，10mm。
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Leica EM TXPLeica 精研一體機
Leica EM TIC 3XLeica 三離子束切割儀
Leica EM EnuityLeica 超薄切片機
Leica EM ACE600Leica 高真空鍍膜儀
進口、國產實驗室通用耗材
濺射靶材
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完善的售前售后服務
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十多年行業經驗技術文章
2025-01-09
原子力顯微鏡在納米科學、材料科學等眾多領域都有著極為重要的應用，而它的探針作為其中的關鍵部件，其導電性情況有著不容忽視的意義，以下是對探針導電性的詳細說明。探針的導電性類型多樣。從導電與否的角度來看，存在導電型和非導電型的區分。非導電型探針...2024-12-11
在材料科學與微觀結構研究領域，LEICA三離子束切割儀是一種重要的制樣工具，其離子研磨速率對制樣質量和效率有著關鍵影響。三離子束切割儀主要通過離子束對樣品進行逐層研磨，以獲得平整、無損傷的樣品截面，便于后續在電子顯微鏡等設備上進行微觀結構觀...2024-11-12
在材料科學、納米技術和半導體工業中，離子束切割技術以其高精度、低損傷和高靈活性的特點，成為科研人員和工程師們重要的工具。傳統的離子束切割儀通常只能一次處理一個樣品，這在一定程度上限制了實驗效率和生產能力。為了克服這一瓶頸，科學家們研發了一種...2024-10-12
在現代半導體制造與材料科學領域，聚焦離子束（FIB）技術因其高精度加工能力而廣受重視。然而，在使用FIB探針進行微納加工時，“撞針”現象偶有發生，對加工精度和樣品質量造成影響。首先我們必須明確何為撞針現象。在FIB加工過程中，當高能離子束聚...
2023-08-08
隨著科技的不斷進步，納米加工和表面改性在許多領域都變得越來越重要。在這些應用中，LEICA三離子束切割儀因其高...服務流程
根據對應行業，提供不同技術方案
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